Pengukuran titik butir LED dan sub-inspeksi diperlukan dan pekerjaan penting dalam proses produksi produk LED. Sebuah probe digunakan dalam proses pengukuran titik butir LED. Biasanya diuji dan disub-inspeksi menurut beberapa nilai kunci seperti nilai listrik, kecerahan, panjang gelombang, ESD, dll., dan kemudian dilakukan rekayasa pengemasan. Oleh karena itu, merupakan proses penting yang memiliki pengaruh yang cukup besar terhadap biaya produksi dalam pembuatan LED. Rentang aplikasi utamanya adalah:
(1) Sangat cocok untuk pengukuran titik karakteristik fotolistrik dalam pembuatan biji-bijian LED.
(2) Sangat cocok untuk pengukuran titik karakteristik fotolistrik dalam komponen laser semikonduktor seperti fabrikasi butir VCSEL, EELD, dan DFB.
(3) Sangat cocok untuk pengukuran titik karakteristik fotolistrik dalam komponen photosensing seperti Photodiode (PD), Phototransistor (PTR), dioda Schottky, dan manufaktur butir dioda Zener.
